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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
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- 语言:简体中文
- 类型:其他标准
- 下载次数:9505次
- 更新时间:10-15 14:33:46
- 名称: GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
- 应用平台:|WinXP|Win7|WinAll|
- 资料介绍
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标准编号:GB/T 4937.1-2006
简体名称:半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
繁体名称:半導體器件 機械和氣候試驗 第1部分:總則
英文名称:Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General标准简介:
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。标签: 其他标准
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